广东省促进企业投资协会半导体CEO大讲堂——方方博士分享“如何从光热分布角度提高光电半导体产品质量和性能”
2019-04-02

3月28日,广东省促进企业投资协会半导体CEO大讲堂第七讲顺利开讲,由广东金鉴实验室方方董事长分享“如何从光热分布角度提高光电半导体产品质量和性能”。本期讲座由广东省促进企业投资协会集成电路专业委员会举办。活动吸引了来自粤芯半导体、高云半导体、裕芯电子、昂宝电子、立功科技、电子五所、华南师范大学、省半研究院中山大学,以及众多光电、照明、材料企业,封装测试企业等30多家单位的120余位嘉宾参与。

方方博士结合自己在工作中遇到的各种典型案例,讲解了大家关注的几大问题,包括如何从光热分布角度提高LED产品质量性能、如何通过双85实验、如何科学分析LED芯片失效,以及容易导致LED硫化的物料等,最后还对欧司朗汽车LED灯进行了逆向解剖。

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光热分布及其检测的应用

方方博士表示,不同厂家相同尺寸芯片光热分布差异大,且芯片的发光与发热不成正比,那么光热分布对于LED产品的质量性能大有影响,通过对光热分布的检测可以帮助定位芯片漏电点。

同时,方方博士分享了影响LED芯片可靠性及倒装芯片问题多的原因、测试评估LED芯片光提取效率、定位LED芯片工艺导致的失效、封装固晶工艺的优化、界定LED光衰问题缘由,以及判断多芯片封装时芯片间电流分布是否均匀、灯珠胶面温度和芯片温度孰高孰低、显示屏热分布是否均匀等问题。其中,热分布的检测还可应用于LED电源、IC等领域。


提高光源可靠性

双85实验是一些路灯、亮化产品面临的“难题”之一,以往可采取两种解决方案:设计产品时采用温控器和提高灯珠质量。前者导致产品成本提高,后者则难以保证质量到位。方方博士本次从支架电镀、注塑胶、封装胶、芯片、固晶胶、PCB板铜箔和导热系数、回流焊、光分布热分布等多方面,全方位地讲解了提高光源可靠性的方法。


分析LED芯片失效

在金鉴之前,业内缺乏LED芯片失效分析的实验室,期间LED芯片失效烧电极的原因在芯片质量与电源过流过压二者之间无法说清。金鉴实验室作为一家专注于LED产业的新业态的科研检测机构,在集合行业大数据的基础上,开创了一套三级的芯片级失效模型。方方博士在讲座中通过丰富的案例,向与会嘉宾科普了芯片级失效案例的判定方法。


易导致硫化物料集

LED的硫化问题也是困扰国内外LED厂商的一大问题,光源硫、氯、溴化在LED光源和灯具的生产、存储、老化、使用等环节都有可能发生。方方博士分享了金鉴LED硫化失效分析路线图,能够帮助客户根据硫、氯、溴化发生的环节选择合适的排硫方案;并给出了常见的易导致硫化的物料清单。


最后,现场嘉宾积极提问,就汽车大灯的国产化、汽车车灯热管理、芯片的潮气入侵、封装厂的选择等多方面的问题与方方博士进行了进一步交流。